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1.
集成电路测试原理 已借1次.
出版社: 电子科技大学出版社   出版日期: 2023
文献类型: 图书 , 索书号: TN407/8
2.
出版社: 电子科技大学出版社   出版日期: 2023
文献类型: 图书 , 索书号: TN402/50
3.
出版社: 西安电子科技大学出版社   出版日期: 2024
文献类型: 图书 , 索书号: TN402/57
4.
集成电路封装技术 已借2次.
出版社: 西安电子科技大学出版社   出版日期: 2022
文献类型: 图书 , 索书号: TN405.94/10
5.
出版社: 西安电子科技大学出版社   出版日期: 2021
文献类型: 图书 , 索书号: TN407/4
6.
出版社: 西安电子科技大学出版社   出版日期: 2020
文献类型: 图书 , 索书号: TN402/36
7.
著者: 刘畅
出版社: 西安电子科技大学出版社   出版日期: 2017
文献类型: 图书 , 索书号: TN402/21