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恩云飞
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恩云飞
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著者
恩云飞
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何小琦
(3)
周斌
(2)
宋芳芳
(2)
来萍
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(美) steven h. voldman著
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何小琦, 恩云飞, 周斌编著
(1)
何小琦, 恩云飞, 宋芳芳编著
(1)
周斌 ... [等] 编写
(1)
工业和信息化部电子第五研究所
(1)
工业和信息化部电子第五研究所组编
(1)
恩云飞, 来萍, 李少平编著
(1)
恩云飞, 谢少锋, 何小琦编著
(1)
李少平
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来萍, 恩云飞, 肖庆中等译
(1)
沃尔德曼
(1)
章晓文
(1)
章晓文,恩云飞编著
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编写组成员宋芳芳, 罗宏伟, 黄云
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罗宏伟
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出版日期
2022
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(1)
2015
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2014
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文献类型
图书
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1.
半导体集成电路的可靠性及评价方法
订购中
著者:
章晓文
恩云飞
出版社:
电子工业出版社
出版日期: 2015
文献类型:
图书 , 索书号:
TN43/157
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内容简介
著者简介
2.
电子微组装可靠性设计.应用篇
订购中
著者:
何小琦
恩云飞
周斌
出版社:
电子工业出版社
出版日期: 2022
文献类型:
图书 , 索书号:
TN605/18
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内容简介
著者简介
3.
电子元器件失效分析技术
订购中
著者:
恩云飞
来萍
李少平
出版社:
电子工业出版社
出版日期: 2015
文献类型:
图书 , 索书号:
TN6/122
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内容简介
著者简介
4.
电子微组装可靠性设计.基础篇
订购中
著者:
何小琦
恩云飞
宋芳芳
出版社:
电子工业出版社
出版日期: 2020
文献类型:
图书 , 索书号:
TN605/17
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内容简介
著者简介
5.
可靠性物理
已借1次.
订购中
著者:
恩云飞
谢少锋
何小琦
出版社:
电子工业出版社
出版日期: 2015
文献类型:
图书 , 索书号:
TN6/129
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试读信息
内容简介
著者简介
6.
ESD揭秘:静电防护原理和典型应用:from semiconductor manufacturing to product use
已借1次.
订购中
著者:
沃尔德曼
出版社:
机械工业出版社
出版日期: 2014
文献类型:
图书 , 索书号:
TN743.02/1
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