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1.
著者: 温德
出版社: 中国人民大学   出版日期: 2005
文献类型: 图书 , 索书号: B848/1071
2.
著者: 温德
出版社: 中信出版社   出版日期: 2003
文献类型: 图书 , 索书号: F274/456
3.
出版社: 东南大学出版社   出版日期: 2023.2
文献类型: 图书 , 索书号:
4.
质量管理学 已借6次.
出版社: 机械工业出版社   出版日期: 2020
文献类型: 图书 , 索书号: F273.2/370=3
5.
CMOS集成电路闩锁效应 已借2次.
出版社: 机械工业出版社   出版日期: 2020
文献类型: 图书 , 索书号: TN432.02/14
6.
出版社: 中国质量标准出版传媒有限公司   出版日期: 2020
文献类型: 图书 , 索书号: F279.712.3/48
7.
质量管理学 已借9次.
出版社: 机械工业出版社   出版日期: 2018
文献类型: 图书 , 索书号: F273.2/370=2
8.
出版社: 机械工业出版社   出版日期: 2018
文献类型: 图书 , 索书号: TN405/13
9.
出版社: 电子工业出版社   出版日期: 2016
文献类型: 图书 , 索书号: TB472/185
10.
出版社: 新华出版社   出版日期: 2009
文献类型: 图书 , 索书号: F47/11